紅外光譜儀是利用物質(zhì)對不同波長的紅外輻射的吸收特性,進(jìn)行分子結(jié)構(gòu)和化學(xué)組成分析的儀器。使用紅外光譜儀可以對材料進(jìn)行定性分析,化合物的鑒定未知化合物的結(jié)構(gòu)分析,化合物的定量分析,化學(xué)反應(yīng)動(dòng)力學(xué)、晶變、相變、材料拉伸與結(jié)構(gòu)的瞬變關(guān)系研究,工業(yè)流程與大氣污染的連續(xù)監(jiān)測,在煤炭行業(yè)對游離二氧化硅的監(jiān)測衛(wèi)生檢疫,制藥,食品,環(huán)保,公安,石油,化工,化學(xué)鍍膜,光通信,材料科學(xué)等諸多領(lǐng)域,珠寶行業(yè)的檢測,水晶石英羥基的測量,聚合物的成分分析,藥物分析。
主要特點(diǎn):X-Strata920 是一款簡潔、堅(jiān)固和可靠的質(zhì)量控制 XRF 臺(tái)式熒光系統(tǒng),用于簡便、快速的鍍層厚度測試···
more +243可無損、精確測量各種金屬涂鍍層厚度,如:鋅/鐵、鎳/鐵、鉻/鐵、鎘/鐵、銅/鐵等(Zn/Fe,Ni/Fe,Cr/Fe,Cd/F···
more +測量范圍(um):0~400~10000工作原理∶磁感應(yīng)/渦流
more +0- 100 um 1 u m或5%讀值鋼鐵上電鍍層、漆、搪瓷、塑料、橡膠層
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